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Testing Embedded Toggle Generation Through On-Chip IR-Drop Measurements
IEEE Design & Test ( IF 1.9 ) Pub Date : 5-25-2022 , DOI: 10.1109/mdat.2022.3178050 Kazuki Monta 1 , Leonidas Katselas 2 , Ferenc Fodor 3 , Takuji Miki 1 , Alkis Hatzopoulos 2 , Makoto Nagata 1 , Erik Jan Marinissen 4
IEEE Design & Test ( IF 1.9 ) Pub Date : 5-25-2022 , DOI: 10.1109/mdat.2022.3178050 Kazuki Monta 1 , Leonidas Katselas 2 , Ferenc Fodor 3 , Takuji Miki 1 , Alkis Hatzopoulos 2 , Makoto Nagata 1 , Erik Jan Marinissen 4
Affiliation
Editor’s notes: The authors present an IR-drop-based power-domain-scenario-based test methodology along with an in-field diagnosis technique. This utilizes on-chip monitor (OCM) circuits, and the toggle patterns can be designed with test pattern generation algorithms. —Vivek Chickermane, IBM Microelectronics
中文翻译：
通过片上 IR 压降测量测试嵌入式切换生成
编者注：作者提出了一种基于 IR drop 的功率域场景测试方法以及现场诊断技术。这利用了片上监控（OCM）电路，并且可以使用测试模式生成算法来设计切换模式。 —Vivek Chickermane，IBM 微电子公司
更新日期：2024-08-26
中文翻译：
通过片上 IR 压降测量测试嵌入式切换生成
编者注：作者提出了一种基于 IR drop 的功率域场景测试方法以及现场诊断技术。这利用了片上监控（OCM）电路，并且可以使用测试模式生成算法来设计切换模式。 —Vivek Chickermane，IBM 微电子公司
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