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High-operating-temperature MWIR photodetector based on a InAs/GaSb superlattice grown by MOCVD
Journal of Semiconductors ( IF 4.8 ) Pub Date : 2022-01-01 , DOI: 10.1088/1674-4926/43/1/012303 Xiujun Hao 1, 2 , Yan Teng 1 , He Zhu 1 , Jiafeng Liu 1 , Hong Zhu 1 , Yunlong Huai 1 , Meng Li 1, 2 , Baile Chen 3 , Yong Huang 1 , Hui Yang 1, 2
Journal of Semiconductors ( IF 4.8 ) Pub Date : 2022-01-01 , DOI: 10.1088/1674-4926/43/1/012303 Xiujun Hao 1, 2 , Yan Teng 1 , He Zhu 1 , Jiafeng Liu 1 , Hong Zhu 1 , Yunlong Huai 1 , Meng Li 1, 2 , Baile Chen 3 , Yong Huang 1 , Hui Yang 1, 2
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We demonstrate a high-operating-temperature (HOT) mid-wavelength InAs/GaSb superlattice heterojunction infrared photodetector grown by metal–organic chemical vapor deposition. High crystalline quality and the near-zero lattice mismatch of a InAs/GaSb superlattice on an InAs substrate were evidenced by high-resolution X-ray diffraction. At a bias voltage of –0.1 V and an operating temperature of 200 K, the device exhibited a 50% cutoff wavelength of ~ 4.9 μ m, a dark current density of 0.012 A/cm2, and a peak specific detectivity of 2.3 × 109 cm·Hz1/2 /W.
中文翻译:
基于 MOCVD 生长的 InAs/GaSb 超晶格的高工作温度 MWIR 光电探测器
我们展示了一种通过金属有机化学气相沉积生长的高工作温度 (HOT) 中波长 InAs/GaSb 超晶格异质结红外光电探测器。高分辨率 X 射线衍射证明了 InAs/GaSb 超晶格在 InAs 衬底上的高结晶质量和接近零的晶格失配。在 –0.1 V 的偏置电压和 200 K 的工作温度下,该器件的 50% 截止波长约为 4.9μ m,暗电流密度为0.012 A/cm 2,峰比检测率为2.3×10 9 cm·Hz 1/2 /W。
更新日期:2022-01-01
中文翻译:
基于 MOCVD 生长的 InAs/GaSb 超晶格的高工作温度 MWIR 光电探测器
我们展示了一种通过金属有机化学气相沉积生长的高工作温度 (HOT) 中波长 InAs/GaSb 超晶格异质结红外光电探测器。高分辨率 X 射线衍射证明了 InAs/GaSb 超晶格在 InAs 衬底上的高结晶质量和接近零的晶格失配。在 –0.1 V 的偏置电压和 200 K 的工作温度下,该器件的 50% 截止波长约为 4.9