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Integrated Tapping Mode Kelvin Probe Force Microscopy with Photoinduced Force Microscopy for Correlative Chemical and Surface Potential Mapping (Small 37/2021)
Small ( IF 13.0 ) Pub Date : 2021-09-16 , DOI: 10.1002/smll.202170194 Devon S. Jakob 1 , Nengxu Li 2 , Huanping Zhou 2 , Xiaoji G. Xu 1
Small ( IF 13.0 ) Pub Date : 2021-09-16 , DOI: 10.1002/smll.202170194 Devon S. Jakob 1 , Nengxu Li 2 , Huanping Zhou 2 , Xiaoji G. Xu 1
Affiliation
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Kelvin Probe Force Microscopy
中文翻译：
集成轻敲模式开尔文探针力显微镜和光致力显微镜，用于相关化学和表面电位映射（小号 37/2021）
开尔文探针力显微镜
更新日期：2021-09-16
中文翻译：
集成轻敲模式开尔文探针力显微镜和光致力显微镜，用于相关化学和表面电位映射（小号 37/2021）
开尔文探针力显微镜
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