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Progress in Photovoltaics ( IF 8.0 ) Pub Date : 2021-07-16 , DOI: 10.1002/pip.3452 Paul Bayerl , Nils Folchert , Johannes Bayer , Marvin Dzinnik , Christina Hollemann , Rolf Brendel , Robby Peibst , Rolf J. Haug
Progress in Photovoltaics ( IF 8.0 ) Pub Date : 2021-07-16 , DOI: 10.1002/pip.3452 Paul Bayerl , Nils Folchert , Johannes Bayer , Marvin Dzinnik , Christina Hollemann , Rolf Brendel , Robby Peibst , Rolf J. Haug
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The cover image is based on the Research Article Contacting a single nanometer-sized pinhole in the interfacial oxide of a poly-silicon on oxide (POLO) solar cell junction by Paul Bayerl et al., https://doi.org/10.1002/pip.3417.
中文翻译：
封面图片
封面图片基于Paul Bayerl 等人在多晶硅氧化物 (POLO) 太阳能电池结的界面氧化物中接触单个纳米级针孔的研究文章，https://doi.org/10.1002/ pip.3417。
更新日期：2021-07-16
中文翻译：
封面图片
封面图片基于Paul Bayerl 等人在多晶硅氧化物 (POLO) 太阳能电池结的界面氧化物中接触单个纳米级针孔的研究文章，https://doi.org/10.1002/ pip.3417。
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