Abstract

In the article, we exploit the Pearson system of distributions to obtain expressions for the posterior mean and posterior variance in Tweedie’s formula. This has interesting consequences in the study of micro-array data where the interest is uncovering unusual genes. Another application deals with the development of new non-parametric tests for the two sample problems of location and of scale. These tests are based on an approximation of the locally optimal score test statistics.

中文翻译：

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小规模经验贝叶斯和其他应用

摘要

在本文中，我们利用 Pearson 分布系统获得 Tweedie 公式中的后验均值和后验方差的表达式。这在微阵列数据的研究中产生了有趣的结果，其中的兴趣是发现不寻常的基因。另一个应用涉及针对位置和规模这两个样本问题开发新的非参数测试。这些测试基于局部最优分数测试统计的近似值。