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Bi(111) 的表面改性和随后的费米密度增强

The Journal of Physical Chemistry C ( IF 3.3 ) Pub Date : 2021-03-05 , DOI: 10.1021/acs.jpcc.0c07345
Kuanysh Zhussupbekov 1 , Killian Walshe 1 , Brian Walls 1 , Andrei Ionov 2 , Sergei I Bozhko 1, 2 , Andrei Ksenz 2 , Rais N Mozhchil 2 , Ainur Zhussupbekova 1 , Karsten Fleischer 1, 3 , Samuel Berman 1 , Ivan Zhilyaev 4 , David D O'Regan 1, 5 , Igor V Shvets 1
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Bi(111) 表面引入的缺陷打破了平移对称性并局部改变了表面态。我们对 Bi(111) 表面的二维缺陷及其引起的状态进行了理论和实验研究。通过低能电子衍射 (LEED)、X 射线光电子能谱、紫外光电子能谱 (UPS) 和扫描技术研究在低温 (110 K) 超高真空 (UHV) 中裂解的 Bi 晶体以及由此产生的离子蚀刻表面隧道显微镜 (STM) 以及光谱 (STS) 技术与密度泛函理论 (DFT) 计算相结合。裂开 Bi(111) 的 STS 测量表明,与原子平坦平台相比,常见的双层阶梯边缘在费米能级周围具有较低的态密度 (DOS)。离子轰击后,Bi(111) 表面在 110 和 300 K 下均显示出异常行为:LEED 观察到表面周期性,STM 观察到双层台阶边缘和能量上不利的单层台阶数量显着增加。 UPS 测量和 Kohn-Sham DOS 证明,新暴露的单层台阶和 A 型双层台阶边缘导致表面费米密度增加。这些状态在特高压条件下似乎是热力学稳定的。




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更新日期:2021-03-18
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