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Quality control using S2 or S charts for subgroups of varying sample sizes and their exact average run lengths
Quality and Reliability Engineering International ( IF 2.2 ) Pub Date : 2021-02-03 , DOI: 10.1002/qre.2847 Saeed Maghsoodloo 1 , Samira Shirzaei 1
Quality and Reliability Engineering International ( IF 2.2 ) Pub Date : 2021-02-03 , DOI: 10.1002/qre.2847 Saeed Maghsoodloo 1 , Samira Shirzaei 1
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This article generalizes the historical chart (of equal sample sizes) to subgroups of differing sample sizes. As a sequel to a previous article, Section 2 compares all estimators of process standard deviation for more than
1 subgroups of equal sample sizes from a normal universe. Section 3 provides the general probability control limits (CONLs) for the chart of unequal sample sizes. Section 4 uses the chi-square distribution to obtain the exact -level CONLs for the S chart. Section 5 proves that the average run length (ARL) of and charts are identical and tabulates the ARL for the most common sample sizes = 2, 3, , and 12. Further, as expected, the ARL of charts always perform better than those of the corresponding charts.
中文翻译:
使用 S2 或 S 控制图对不同样本量及其精确平均运行长度的子组进行质量控制
这篇文章概括了历史 图表(相同的样本量)到不同样本量的子组。作为上一篇文章的续篇,第 2 节比较了所有过程标准偏差的估计量超过 来自正常宇宙的 1 个样本大小相同的子组。第 3 节提供了一般概率控制限 (CONL)不等样本量的图表。第 4 节使用卡方分布来获得准确的S 控制图的级别 CONL 。第 5 节证明了平均游程长度 (ARL) 和 图表是相同的,并列出了最常见样本量的 ARL = 2, 3, , 和 12. 此外,正如预期的那样,ARL 为 图表总是比相应的图表表现更好 图表。
更新日期:2021-02-03
中文翻译:
使用 S2 或 S 控制图对不同样本量及其精确平均运行长度的子组进行质量控制
这篇文章概括了历史 图表(相同的样本量)到不同样本量的子组。作为上一篇文章的续篇,第 2 节比较了所有过程标准偏差的估计量超过 来自正常宇宙的 1 个样本大小相同的子组。第 3 节提供了一般概率控制限 (CONL)不等样本量的图表。第 4 节使用卡方分布来获得准确的S 控制图的级别 CONL 。第 5 节证明了平均游程长度 (ARL) 和 图表是相同的,并列出了最常见样本量的 ARL = 2, 3, , 和 12. 此外,正如预期的那样,ARL 为 图表总是比相应的图表表现更好 图表。