当前位置: X-MOL 学术Chem. Eng. J. › 论文详情
Our official English website, www.x-mol.net, welcomes your feedback! (Note: you will need to create a separate account there.)
壳厚度引起的多孔ZnO @ CuS中汞的自发向内迁移,从而固定了气态汞
Chemical Engineering Journal ( IF 13.3 ) Pub Date : 2020-11-03 , DOI: 10.1016/j.cej.2020.127592
Qinyuan Hong , Haomiao Xu , Jiaxing Li , Wenjun Huang , Ping Liu , Zan Qu , Naiqiang Yan

诱导气态物质向内迁移成固体物质是提高界面吸附稳定性的有效方法之一。然而,由于其致密结构,通常在外表面上发生在块状材料,尤其是矿物硫化物上的气态汞(Hg 0)吸附,从而导致低的结合稳定性。本研究制备了具有不同壳厚度的多孔ZnO @ CuS,以研究汞的吸附性能和键合稳定性。多孔壳结构使Hg 0向内迁移到ZnO @ CuS中。一方面,由于增加了外壳的活性位,增加了汞的吸附性能,从而提高了汞的吸附性能。另一方面,汞的结合稳定性随着壳厚度的增加而增强。最初的汞解吸温度从50℃逐渐升高到100℃以上,同时,解吸峰温度从150℃升高到275℃。改进的粘合稳定性还扩大了其对更宽温度范围(50–150°C)的适应性。此外,最佳的ZnO @ CuS的饱和吸附容量为60.53 mg / g,并且具有对O 2,SO 2和H 2的高耐受性。O.因此,这项工作提供了一种有希望的厚度诱导方法,以增强汞在硫化物上的键合稳定性。





"点击查看英文标题和摘要"

更新日期:2020-11-03
down
wechat
bug