当前位置：
X-MOL 学术
›
J. Appl. Crystallogr.
›
论文详情
Our official English website, www.x-mol.net, welcomes your
feedback! (Note: you will need to create a separate account there.)
speckle-tracking: a software suite for ptychographic X-ray speckle tracking
Journal of Applied Crystallography ( IF 5.2 ) Pub Date : 2020-10-19 , DOI: 10.1107/s1600576720011991 Andrew J Morgan 1, 2 , Kevin T Murray 3 , Harry M Quiney 2 , Saša Bajt 3, 4 , Henry N Chapman 1, 4, 5
Journal of Applied Crystallography ( IF 5.2 ) Pub Date : 2020-10-19 , DOI: 10.1107/s1600576720011991 Andrew J Morgan 1, 2 , Kevin T Murray 3 , Harry M Quiney 2 , Saša Bajt 3, 4 , Henry N Chapman 1, 4, 5
Affiliation
|
The program speckle-tracking is described, an open-source software suite for performing wavefront metrology and sample imaging from projection in-line holograms of a sample.
中文翻译：
散斑跟踪：用于 ptychographic X 射线散斑跟踪的软件套件
描述了散斑跟踪程序，这是一个开源软件套件，用于从样品的投影在线全息图执行波前计量和样品成像。
更新日期：2020-10-19
中文翻译：
散斑跟踪：用于 ptychographic X 射线散斑跟踪的软件套件
描述了散斑跟踪程序，这是一个开源软件套件，用于从样品的投影在线全息图执行波前计量和样品成像。
京公网安备 11010802027423号