With the rapid technological advances, products are becoming more reliable. Then, multistress accelerated life testing (MALT) has been adopted in engineering to obtain failure information in a limited time. In order to make the testing procedure more efficient, it is necessary to better design the test plan. However, to date, relevant research on planning of MALT is limited. Multiple stresses will lead to plenty of stress‐level combinations that require too much cost and time to implement. Besides, there may be interactions among multiple stresses, which need more experiments for parameter estimation. To solve these problems, we propose a novel planning method for constant‐stress MALT under lognormal distribution using D‐optimal design, which can reduce required test points efficiently and deal with second‐order effects in models. In ALT, the log‐linear model is often used to describe the life‐stress relationship. Hence, D‐optimal design is adopted in this paper to select test points from the whole test region. Then, optimal unit allocation plans are formulated under V/D‐optimality criterion, respectively, where type I and type II censoring are both discussed. A real case of light‐emitting device (LED) is presented to compare the proposed approach with other two existing methods. The results show that the proposed method performs better than other two existing methods both in prediction accuracy and estimation precision. Moreover, a sensitivity analysis reveals the robustness of the optimal plans determined by the proposed method.

中文翻译：

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基于D优化设计规划具有多个应力的恒应力加速寿命测试

随着技术的飞速发展，产品变得越来越可靠。然后，工程中采用了多应力加速寿命测试（MALT），以在有限的时间内获得故障信息。为了使测试过程更有效率，有必要更好地设计测试计划。但是，迄今为止，有关MALT计划的相关研究是有限的。多重压力将导致大量压力级别的组合，这需要太多的成本和时间来实施。此外，多个应力之间可能存在相互作用，这需要更多的实验来进行参数估计。为了解决这些问题，我们提出了一种采用D最优设计的对数正态分布下恒应力MALT的新计划方法，该方法可以有效地减少所需的测试点并处理模型中的二阶效应。在ALT中 对数线性模型通常用于描述生活压力关系。因此，本文采用D优化设计从整个测试区域中选择测试点。然后，分别根据V / D优化准则制定了最优单位分配计划，其中讨论了I型和II型审查。提出了一个真实的发光器件（LED）案例，以将所提出的方法与其他两种现有方法进行比较。结果表明，该方法在预测精度和估计精度上均优于其他两种方法。此外，敏感性分析揭示了所提出的方法确定的最优计划的鲁棒性。本文采用D优化设计，从整个测试区域中选择测试点。然后，分别根据V / D优化准则制定了最优单位分配计划，其中讨论了I型和II型审查。提出了一个真实的发光器件（LED）案例，以将所提出的方法与其他两种现有方法进行比较。结果表明，该方法在预测精度和估计精度上均优于其他两种方法。此外，敏感性分析揭示了所提出的方法确定的最优计划的鲁棒性。本文采用D优化设计，从整个测试区域中选择测试点。然后，分别根据V / D优化准则制定了最优单位分配计划，其中讨论了I型和II型审查。提出了一个真实的发光器件（LED）案例，以将所提出的方法与其他两种现有方法进行比较。结果表明，该方法在预测精度和估计精度上均优于其他两种方法。此外，敏感性分析揭示了所提出的方法确定的最优计划的鲁棒性。提出了一个真实的发光器件（LED）案例，以将所提出的方法与其他两种现有方法进行比较。结果表明，该方法在预测精度和估计精度上均优于其他两种方法。此外，敏感性分析揭示了所提出的方法确定的最优计划的鲁棒性。提出了一个发光器件（LED）的真实案例，以将所提出的方法与其他两种现有方法进行比较。结果表明，该方法在预测精度和估计精度上均优于其他两种方法。此外，敏感性分析揭示了所提出的方法确定的最优计划的鲁棒性。