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Aggregated Nanoparticles: Sample Preparation and Analysis by Atom Probe Tomography
Ultramicroscopy ( IF 2.1 ) Pub Date : 2020-11-01 , DOI: 10.1016/j.ultramic.2020.113082 Cédric Barroo 1 , Austin J Akey 2 , David C Bell 3
Ultramicroscopy ( IF 2.1 ) Pub Date : 2020-11-01 , DOI: 10.1016/j.ultramic.2020.113082 Cédric Barroo 1 , Austin J Akey 2 , David C Bell 3
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Atom probe tomography (APT) allows measurement of the three-dimensional structure and composition of materials, but specific sample preparation procedures are required for challenging materials such as aggregates of nanoparticles. Indeed, the presence of porosity within the specimen affects both the stability of the sample and the accuracy of the data. Here, aggregates of nanoparticles were transferred onto a micromanipulator tip and embedded via electron-beam-assisted deposition of Pt. Successive FIB-millings and Pt-depositions are needed to create suitable APT tips. The 3D reconstruction reveals the presence of 15-20 nm nanoparticles, and mass-spectral analysis shows the absence of trace elements within the catalyst, thus serving as quality control for the synthesis of nanoparticles with specific compositions.
中文翻译：
聚集的纳米颗粒：原子探针断层扫描的样品制备和分析
原子探针断层扫描 (APT) 允许测量材料的三维结构和成分，但需要特定的样品制备程序来处理具有挑战性的材料，例如纳米颗粒的聚集体。事实上，样品中孔隙的存在会影响样品的稳定性和数据的准确性。在这里，纳米颗粒的聚集体被转移到显微操作器的尖端上，并通过电子束辅助的铂沉积嵌入。需要连续的 FIB 铣削和 Pt 沉积来创建合适的 APT 尖端。3D 重建显示存在 15-20 nm 纳米粒子，质谱分析显示催化剂中不存在微量元素，从而作为具有特定成分的纳米粒子合成的质量控制。
更新日期：2020-11-01
中文翻译：
聚集的纳米颗粒：原子探针断层扫描的样品制备和分析
原子探针断层扫描 (APT) 允许测量材料的三维结构和成分，但需要特定的样品制备程序来处理具有挑战性的材料，例如纳米颗粒的聚集体。事实上，样品中孔隙的存在会影响样品的稳定性和数据的准确性。在这里，纳米颗粒的聚集体被转移到显微操作器的尖端上，并通过电子束辅助的铂沉积嵌入。需要连续的 FIB 铣削和 Pt 沉积来创建合适的 APT 尖端。3D 重建显示存在 15-20 nm 纳米粒子，质谱分析显示催化剂中不存在微量元素，从而作为具有特定成分的纳米粒子合成的质量控制。
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