We consistently include the effect of massive neutrinos in the thermal Sunyaev Zeldovich (SZ) power spectrum and cluster counts analyses, highlighting subtle dependencies on the parameterisation and data combination. In $\Lambda$CDM, with an X-ray mass bias corresponding the expected hydrostatic mass bias, i.e., $b\simeq0.2$, our constraints from Planck SZ data are consistent with the latest results from SPT, DES-Y1 and KiDS+VIKING-450. In $\nu\Lambda$CDM, without prior information on $b$, our joint analyses of Planck SZ with Planck 2015 primary CMB yield a small improvement on the total neutrino mass bound compared to the Planck 2015 primary CMB constraint, as well as $(1-b)=0.64\pm0.04$~(68\%~CL). For forecasts, we find that a combination of a mock cosmic variance limited SZ power spectrum with primary CMB and BAO can improve the uncertainty on the total neutrino mass by 14\% with respect to CMB combined with BAO. This requires masking the heaviest clusters and probing the small-scale SZ power spectrum up to multipoles of $\ell_\mathrm{max}=10^4$. For a future competitive measurement of the total neutrino mass using CMB and the SZ power spectrum, but excluding BAO and lensing power spectrum, we find that a 1\% precision on the mass calibration is needed. Although SZ power spectrum-based measurements of the neutrino masses are challenging, we find that the SZ power spectrum can be used to tightly constrain intra-cluster medium properties.

中文翻译：

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在热 Sunyaev Zeldovich 功率谱和簇计数分析中包括大量中微子

我们始终在热 Sunyaev Zeldovich (SZ) 功率谱和簇计数分析中包含大量中微子的影响，突出了对参数化和数据组合的微妙依赖。在 $\Lambda$CDM 中，X 射线质量偏差对应于预期的静水质量偏差，即 $b\simeq0.2$，我们来自 Planck SZ 数据的约束与 SPT、DES-Y1 和KiDS+VIKING-450。在 $\nu\Lambda$CDM 中，在没有关于 $b$ 的先验信息的情况下，我们对普朗克 SZ 与普朗克 2015 初级 CMB 的联合分析产生了与普朗克 2015 初级 CMB 约束相比，总中微子质量界限的小幅改进，以及$(1-b)=0.64\pm0.04$~(68\%~CL)。对于预测，我们发现模拟宇宙方差受限的 SZ 功率谱与初级 CMB 和 BAO 的组合可以将总中微子质量的不确定性提高 14%，相对于 CMB 与 BAO 组合。这需要屏蔽最重的簇并探测小尺度 SZ 功率谱，直至达到 $\ell_\mathrm{max}=10^4$ 的多极点。对于使用 CMB 和 SZ 功率谱（但不包括 BAO 和透镜功率谱）的中微子总质量的未来竞争性测量，我们发现需要 1% 的质量校准精度。尽管基于 SZ 功率谱的中微子质量测量具有挑战性，但我们发现 SZ 功率谱可用于严格约束簇内介质属性。这需要屏蔽最重的簇并探测小尺度 SZ 功率谱，直至达到 $\ell_\mathrm{max}=10^4$ 的多极点。对于使用 CMB 和 SZ 功率谱（但不包括 BAO 和透镜功率谱）的中微子总质量的未来竞争性测量，我们发现需要 1% 的质量校准精度。尽管基于 SZ 功率谱的中微子质量测量具有挑战性，但我们发现 SZ 功率谱可用于严格约束簇内介质属性。这需要屏蔽最重的簇并探测小尺度 SZ 功率谱，直至达到 $\ell_\mathrm{max}=10^4$ 的多极点。对于使用 CMB 和 SZ 功率谱（但不包括 BAO 和透镜功率谱）的中微子总质量的未来竞争性测量，我们发现需要 1% 的质量校准精度。尽管基于 SZ 功率谱的中微子质量测量具有挑战性，但我们发现 SZ 功率谱可用于严格约束簇内介质属性。