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Nanoparticle-assisted stabilization of metal species as an alternative to conventional approaches for avoiding volatilization errors in total reflection X-ray fluorescence: A review
Spectrochimica Acta Part B: Atomic Spectroscopy ( IF 3.2 ) Pub Date : 2020-06-01 , DOI: 10.1016/j.sab.2020.105843
Inmaculada de la Calle , Vanesa Romero , Isela Lavilla , Carlos Bendicho

Abstract Total Reflection X-Ray Fluorescence spectrometry (TXRF) provides many advantages for metal and metalloid analysis. In general, the sample should be prepared as a thin film. To that end, for the analysis of liquid, suspensions or solids previously digested, a small aliquot of the sample is dropped on the sample carrier (e.g. quartz reflector). However, main inconveniences of this technique are the low sensitivity achieved for certain elements depending on their fluorescence yield (also related with the atomic number and the line series selected for the element quantification), and the high volatility of certain elements and compounds (such as oxides, fluorides, chlorides and hydrides) due to their loss during sample drop evaporation performed in the quartz reflector as a consequence of sample preparation before TXRF analysis. Published papers on this subject are mainly related to mercury, but volatilization losses of selenium, arsenic, lead and cadmium and halogens have also been reported. Different analytical approaches have been developed to improve the sample preparation step so as to avoid losses of volatile elements and compounds before TXRF analysis, which are summarized in this review. These strategies include slurry sampling, amalgamation, complexation, adsorption onto membranes, immobilization on quartz reflectors and more recently approaches using nanomaterials like metallic nanoparticles, carbon dots and graphene that can also preconcentrate target analytes. Potentials and pitfalls of these strategies are discussed in this review, as well as other tentative approaches.

中文翻译:

纳米粒子辅助稳定金属物种作为避免全反射 X 射线荧光挥发误差的传统方法的替代方法:综述

摘要 全反射 X 射线荧光光谱法 (TXRF) 为金属和准金属分析提供了许多优势。通常,样品应制备为薄膜。为此,为了分析先前消解的液体、悬浮液或固体,将一小部分样品滴在样品载体(例如石英反射器)上。然而,该技术的主要不便在于某些元素的灵敏度低,这取决于它们的荧光产率(也与原子序数和为元素量化选择的线系列有关),以及某些元素和化合物(例如氧化物、氟化物、氯化物和氢化物),因为它们在 TXRF 分析前的样品制备过程中在石英反射器中进行的样品液滴蒸发过程中损失。已发表的关于该主题的论文主要与汞有关,但也报告了硒、砷、铅和镉以及卤素的挥发损失。已经开发了不同的分析方法来改进样品制备步骤,以避免在 TXRF 分析之前损失挥发性元素和化合物,本综述总结了这些方法。这些策略包括浆料取样、合并、络合、吸附到膜上、固定在石英反射器上以及最近使用纳米材料(如金属纳米粒子、碳点和石墨烯)的方法,这些纳米材料也可以预浓缩目标分析物。本综述讨论了这些策略的潜力和缺陷,以及其他尝试性方法。砷、铅、镉和卤素也有报道。已经开发了不同的分析方法来改进样品制备步骤,以避免在 TXRF 分析之前损失挥发性元素和化合物,本综述总结了这些方法。这些策略包括浆液取样、合并、络合、吸附到膜上、固定在石英反射器上以及最近使用纳米材料(如金属纳米粒子、碳点和石墨烯)的方法,这些纳米材料也可以预浓缩目标分析物。本综述讨论了这些策略的潜力和缺陷,以及其他尝试性方法。砷、铅、镉和卤素也有报道。已经开发了不同的分析方法来改进样品制备步骤,以避免在 TXRF 分析之前损失挥发性元素和化合物,本综述总结了这些方法。这些策略包括浆液取样、合并、络合、吸附到膜上、固定在石英反射器上以及最近使用纳米材料(如金属纳米粒子、碳点和石墨烯)的方法,这些纳米材料也可以预浓缩目标分析物。本综述讨论了这些策略的潜力和缺陷,以及其他尝试性方法。已经开发了不同的分析方法来改进样品制备步骤,以避免在 TXRF 分析之前损失挥发性元素和化合物,本综述总结了这些方法。这些策略包括浆液取样、合并、络合、吸附到膜上、固定在石英反射器上以及最近使用纳米材料(如金属纳米粒子、碳点和石墨烯)的方法,这些纳米材料也可以预浓缩目标分析物。本综述讨论了这些策略的潜力和缺陷,以及其他尝试性方法。已经开发了不同的分析方法来改进样品制备步骤,以避免在 TXRF 分析之前损失挥发性元素和化合物,本综述总结了这些方法。这些策略包括浆液取样、合并、络合、吸附到膜上、固定在石英反射器上以及最近使用纳米材料(如金属纳米粒子、碳点和石墨烯)的方法,这些纳米材料也可以预浓缩目标分析物。本综述讨论了这些策略的潜力和缺陷,以及其他尝试性方法。固定在石英反射器上,以及最近使用纳米材料(如金属纳米颗粒、碳点和石墨烯)的方法,这些纳米材料也可以预浓缩目标分析物。本综述讨论了这些策略的潜力和缺陷,以及其他尝试性方法。固定在石英反射器上,以及最近使用纳米材料(如金属纳米颗粒、碳点和石墨烯)的方法,这些纳米材料也可以预浓缩目标分析物。本综述讨论了这些策略的潜力和缺陷,以及其他尝试性方法。
更新日期:2020-06-01
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