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个人简介

解冰,北京大学微电子学与固体电子学专业,博士学位。 研究成果概况 参与编写了《电路基础实验》课程教材,并获校级教学成果一等奖。 主要参与的科研项目有国家科技重点实验室的合作项目“EEPROM超薄栅隧道氧化层(<10nm )可靠性评价模型研究”;国家973项目“微小尺度mos器件可靠性问题”的研究;与motorola公司的国际合作项目的研究工作“亚微米mosfets寿命预测模型的发展”;还有自然科学基金及电子预研项目等。

研究领域

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薄栅介质MOSFET结构的电学特性和可靠性;Si/SiO2界面物理;高场物理和击穿机制;MOS器件的退化机制以及Flash 存储器的可靠性等

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