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Electron diffraction characterization of nanocrystalline materials using a Rietveld-based approach. Part I. Methodology
Journal of Applied Crystallography ( IF 6.1 ) Pub Date : 2022-08-01 , DOI: 10.1107/s1600576722006367 Ankur Sinha 1 , Mauro Bortolotti 1 , Gloria Ischia 1 , Luca Lutterotti 1 , Stefano Gialanella 1
中文翻译：
使用基于 Rietveld 的方法对纳米晶体材料进行电子衍射表征。第一部分：方法论
更新日期：2022-08-01
Journal of Applied Crystallography ( IF 6.1 ) Pub Date : 2022-08-01 , DOI: 10.1107/s1600576722006367 Ankur Sinha 1 , Mauro Bortolotti 1 , Gloria Ischia 1 , Luca Lutterotti 1 , Stefano Gialanella 1
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中文翻译：
使用基于 Rietveld 的方法对纳米晶体材料进行电子衍射表征。第一部分：方法论
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