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Special Issue on 2021 Top Picks in Hardware and Embedded Security
IEEE Design & Test ( IF 2 ) Pub Date : 2022-06-22 , DOI: 10.1109/mdat.2022.3180211 Partha Pratim Pande
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The articles in this issue are divided into two groups: 1) the first group belongs to the Special Issue on 2021 Top Picks in Hardware and Embedded Security and 2) the second group consists of the general interest articles.
中文翻译：
2021 年硬件和嵌入式安全热门精选特刊
本期文章分为两组：1) 第一组属于 2021 年硬件和嵌入式安全热门精选特刊，2) 第二组由一般兴趣文章组成。
更新日期：2022-06-24
IEEE Design & Test ( IF 2 ) Pub Date : 2022-06-22 , DOI: 10.1109/mdat.2022.3180211 Partha Pratim Pande
中文翻译：
2021 年硬件和嵌入式安全热门精选特刊
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