This paper examines infrared spectroscopic effects for the standoff detection of an explosive material, hexahydro-1,3,5-trinitro-1,3,5-triazine (RDX), inkjet printed on an aluminum surface. Results of a spectroscopic study are described, using multiple optical setups. These setups were selected to explore how variations in the angles of incidence and collection from the surface of the material result in corresponding variations in the spectral signatures. The goal of these studies is to provide an understanding of these spectral changes, since it affects standoff detection of hazardous materials on a reflective substrate. We demonstrate that variations in spectral effects are dependent on the relative surface concentration of the deposited RDX. We also show that it is reasonable to use spectroscopic data collected in a standard laboratory infrared spectrometer outfitted with a variable angle reflectometer set at 0 as reference spectra for data collected in a standoff configuration. These results are important to provide a systematic approach to understanding IR spectra collection using standoff systems in the field, and to allow for comparison between such data, and data collected in the laboratory. Though the precise results are constrained to a specific material system (thin layers on a reflective substrate), the approach and general discussion provided are applicable to a broad range of IR standoff sensing techniques and applications.

本文研究了红外光谱效应对喷印在铝表面上的爆炸材料 hexahydro-1,3,5-trinitro-1,3,5-triazine (RDX) 的对峙检测。使用多种光学设置描述了光谱研究的结果。选择这些设置是为了探索材料表面的入射角和收集角的变化如何导致光谱特征的相应变化。这些研究的目的是提供对这些光谱变化的理解，因为它会影响反射基板上有害材料的对峙检测。我们证明光谱效应的变化取决于沉积的 RDX 的相对表面浓度。我们还表明，使用标准实验室红外光谱仪收集的光谱数据是合理的，该光谱仪配备了设置在 0° 的可变角度反射计，作为在对峙配置中收集的数据的参考光谱。这些结果对于提供一种系统的方法来理解在现场使用隔离系统收集红外光谱很重要，并允许在这些数据和实验室收集的数据之间进行比较。虽然精确的结果受限于特定的材料系统（反射基板上的薄层），但所提供的方法和一般性讨论适用于广泛的 IR 距离感测技术和应用。这些结果对于提供一种系统的方法来理解在现场使用隔离系统收集红外光谱很重要，并允许在这些数据和实验室收集的数据之间进行比较。虽然精确的结果受限于特定的材料系统（反射基板上的薄层），但所提供的方法和一般性讨论适用于广泛的 IR 距离感测技术和应用。这些结果对于提供一种系统的方法来理解在现场使用隔离系统收集红外光谱很重要，并允许在这些数据和实验室收集的数据之间进行比较。虽然精确的结果受限于特定的材料系统（反射基板上的薄层），但所提供的方法和一般性讨论适用于广泛的 IR 距离感测技术和应用。