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精密弱透镜中的形状噪声和色散
Monthly Notices of the Royal Astronomical Society ( IF 4.8 ) Pub Date : 2021-02-11 , DOI: 10.1093/mnras/stab423
Pol Gurri 1 , Edward N Taylor 1 , Christopher J Fluke 1
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我们分析了来自精密弱透镜 (PWL) 的首次测量:一种通过速度信息测量单个星系-星系弱透镜的新方法。我们的目标是了解从 PWL 观察到的剪切分布,它比统计测量误差所能解释的范围更广。我们确定了两种可能的散射源来解释观察到的分布:与圆形稳定旋转的基本假设相关的形状噪声项,以及与恒星与光晕质量关系 (SHMR) 周围的对数正态色散一致的天体物理信号。我们将观察到的分布建模为这两个因素的组合,并根据我们的数据量化了它们最可能的值。对于当前样本,我们测量 σγ = 0.024 ± 0.007 的有效形状噪声,强调该方法的低噪声影响,并将 PWL 定位为比传统弱透镜精确 10 倍。我们还测量了 $\xi _\gamma = 0.53^{+0.26}_{-0.28}$ dex 在 8.5 < 范围内的平均分布。对数 M⋆ < 11. 该测量值高于预期,这表明光晕质量和/或轮廓的分散度相对较高。



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更新日期:2021-02-11
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