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Editorial for New TDMR Editor Byoung Woon Min
IEEE Transactions on Device and Materials Reliability ( IF 2 ) Pub Date : 2020-09-01 , DOI: 10.1109/tdmr.2020.3016703 Byoung Woon Min
IEEE Transactions on Device and Materials Reliability ( IF 2 ) Pub Date : 2020-09-01 , DOI: 10.1109/tdmr.2020.3016703 Byoung Woon Min
I would like to introduce Dr. Byoung Woon Min as a new TDMR Editor. Dr. Min is going to support TDMR in the topic of memories and advanced semiconductor devices technologies.
中文翻译：
新 TDMR 编辑 Byoung Woon Min 的社论
我想介绍一下 Byoung Woon Min 博士作为新的 TDMR 编辑器。闵博士将在存储器和先进半导体器件技术方面为 TDMR 提供支持。
更新日期：2020-09-01
中文翻译：
新 TDMR 编辑 Byoung Woon Min 的社论
我想介绍一下 Byoung Woon Min 博士作为新的 TDMR 编辑器。闵博士将在存储器和先进半导体器件技术方面为 TDMR 提供支持。
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