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Corrections to “Total-Dose Effect of X-ray Irradiation on Low-TemperaturePolycrystalline Silicon Thin-Film Transistors”
IEEE Electron Device Letters ( IF 4.9 ) Pub Date : 2020-09-01 , DOI: 10.1109/led.2020.3012271 Ya-Hsiang Tai , Shan Yeh , Shih-Hsuan Huang , Ting-Chang Chang
IEEE Electron Device Letters ( IF 4.9 ) Pub Date : 2020-09-01 , DOI: 10.1109/led.2020.3012271 Ya-Hsiang Tai , Shan Yeh , Shih-Hsuan Huang , Ting-Chang Chang
In The above article [1] , the Acknowledgment was deleted in error. Therefore, the Acknowledgment is added below. This change had no influence on the discussion and conclusions in the article.
中文翻译：
对“X 射线辐照对低温多晶硅薄膜晶体管的总剂量效应”的修正
在上述文章 [1] 中，致谢被错误删除。因此，在下面添加了致谢。这一变化对文章的讨论和结论没有影响。
更新日期：2020-09-01
中文翻译：
对“X 射线辐照对低温多晶硅薄膜晶体管的总剂量效应”的修正
在上述文章 [1] 中，致谢被错误删除。因此，在下面添加了致谢。这一变化对文章的讨论和结论没有影响。
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