Pore structure parameters are significant for investigating the diffusion properties of volatile organic compounds from building materials. Traditional characterization methods could provide ether surface morphology or some pore parameters of the material, which could not comprehensively reflect the overall information. X-ray tomography, as an advanced nondestructive method, can not only characterize the three-dimensional structure characteristics but also comprehensively measure pore parameters of materials. This study applied X-ray tomography to systematically analyze the geometry and volatile organic compound emission paths of medium-density fiberboard. The three-dimensional structures of pores and materials were reconstructed respectively. The isolated pores and connective pores were extracted to indicate the pore connectivity, and skeletonization was simultaneously applied, allowing visualization of the volatile organic compound diffusion paths. The porosity was 54.67%, and 99.91% of the pores were connective pores. The tortuosity was 2.07, and the fractal dimension was 2.605, indicating the heterogeneity and self-similarity of pore structures. Scanning electron microscopy was used to characterize the two-dimensional morphology of the material, and mercury intrusion porosimetry was applied to analyze the pore parameters. The results were consistent with that of X-ray tomography, and their coupling with X-ray tomography could comprehensively characterize the structures and parameters of indoor building materials, which could contribute significantly to future research on volatile organic compound emission mechanisms and building physics.

中文翻译：

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X射线断层扫描结合扫描电子显微镜和压汞孔隙率测定法对中密度纤维板的三维几何、孔隙参数和分形特征进行分析

孔结构参数对于研究挥发性有机化合物从建筑材料中的扩散特性具有重要意义。传统的表征方法只能提供材料的醚表面形貌或某些孔隙参数，不能全面反映整体信息。X射线断层扫描作为一种先进的无损检测方法，不仅可以表征三维结构特征，还可以综合测量材料的孔隙参数。本研究应用 X 射线断层扫描系统分析了中密度纤维板的几何形状和挥发性有机化合物的排放路径。分别重构了孔隙和材料的三维结构。提取孤立孔和连接孔以指示孔连通性，同时应用骨架化，从而使挥发性有机化合物的扩散路径可视化。孔隙率为54.67%，99.91%的孔隙为连接孔隙。曲折度为2.07，分形维数为2.605，表明孔隙结构具有非均质性和自相似性。扫描电子显微镜用于表征材料的二维形貌，并应用压汞孔隙率测定法分析孔隙参数。该结果与X射线断层扫描的结果一致，它们与X射线断层扫描的耦合可以综合表征室内建筑材料的结构和参数，对未来挥发性有机化合物排放机制和建筑物理的研究具有重要意义。允许可视化挥发性有机化合物扩散路径。孔隙率为54.67%，99.91%的孔隙为连接孔隙。曲折度为2.07，分形维数为2.605，表明孔隙结构具有非均质性和自相似性。扫描电子显微镜用于表征材料的二维形貌，并应用压汞孔隙率测定法分析孔隙参数。该结果与X射线断层扫描的结果一致，它们与X射线断层扫描的耦合可以全面表征室内建筑材料的结构和参数，这对未来挥发性有机化合物排放机制和建筑物理的研究具有重要意义。允许可视化挥发性有机化合物扩散路径。孔隙率为54.67%，99.91%的孔隙为连接孔隙。曲折度为2.07，分形维数为2.605，表明孔隙结构具有非均质性和自相似性。扫描电子显微镜用于表征材料的二维形貌，并应用压汞孔隙率测定法分析孔隙参数。该结果与X射线断层扫描的结果一致，它们与X射线断层扫描的耦合可以全面表征室内建筑材料的结构和参数，这对未来挥发性有机化合物排放机制和建筑物理的研究具有重要意义。孔隙率为54.67%，99.91%的孔隙为连接孔隙。曲折度为2.07，分形维数为2.605，表明孔隙结构具有非均质性和自相似性。扫描电子显微镜用于表征材料的二维形貌，并应用压汞孔隙率测定法分析孔隙参数。该结果与X射线断层扫描的结果一致，它们与X射线断层扫描的耦合可以全面表征室内建筑材料的结构和参数，这对未来挥发性有机化合物排放机制和建筑物理的研究具有重要意义。孔隙率为54.67%，99.91%的孔隙为连接孔隙。曲折度为2.07，分形维数为2.605，表明孔隙结构具有非均质性和自相似性。扫描电子显微镜用于表征材料的二维形貌，并应用压汞孔隙率测定法分析孔隙参数。该结果与X射线断层扫描的结果一致，它们与X射线断层扫描的耦合可以全面表征室内建筑材料的结构和参数，这对未来挥发性有机化合物排放机制和建筑物理的研究具有重要意义。表明孔隙结构的异质性和自相似性。扫描电子显微镜用于表征材料的二维形貌，并应用压汞孔隙率测定法分析孔隙参数。该结果与X射线断层扫描的结果一致，它们与X射线断层扫描的耦合可以全面表征室内建筑材料的结构和参数，这对未来挥发性有机化合物排放机制和建筑物理的研究具有重要意义。表明孔隙结构的异质性和自相似性。扫描电子显微镜用于表征材料的二维形貌，并应用压汞孔隙率测定法分析孔隙参数。该结果与X射线断层扫描的结果一致，它们与X射线断层扫描的耦合可以全面表征室内建筑材料的结构和参数，这对未来挥发性有机化合物排放机制和建筑物理的研究具有重要意义。