Abstract

A technique for determining the directions of dislocation lines using an atomic force microscope after selective etching of a single crystal is discussed. The technique has been tested on bismuth-type single crystals.

中文翻译：

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原子力显微镜测定铋及其合金单晶中位错线的方向

摘要

讨论了一种在选择性刻蚀单晶之后使用原子力显微镜确定位错线方向的技术。该技术已经在铋型单晶上进行了测试。