Matthew R. Linford1, Vincent S. Smentkowski2*, John T. Grant3, C. Richard Brundle4, Peter M.A. Sherwood5, Mark C. Biesinger6, Jeff Terry7, Kateryna Artyushkova8, Alberto Herrera-Gómez9, Sven Tougaard10, William Skinner11, Jean-Jacques Pireaux12, Christopher F. McConville13, Christopher D. Easton14, Thomas R. Gengenbach14, George H. Major1, Paul Dietrich15, Andreas Thissen15, Mark Engelhard16, Cedric J. Powell17, Karen J. Gaskell18 and Donald R. Baer16 Department of Chemistry and Biochemistry, Brigham Young University, Provo, UT 84602, USA; General Electric Research, Niskayuna, NY 12309, USA; Surface Analysis Consultant, Clearwater, FL 33767, USA; C.R. Brundle & Associates, Soquel, CA 95073, USA; University of Washington, Box 351700, Seattle, WA 98195, USA; Surface Science Western, University of Western Ontario, London, Ontario N6G 0J3, Canada; Department of Physics, Illinois Institute of Technology, Chicago, IL 60616, USA; Physical Electronics, Chanhassen, MN 55317, USA; CINVESTAV – Unidad Queretaro, Real de Juriquilla 76230, Mexico; Department of Physics, University of Southern Denmark, Odense 5230, Denmark; Future Industries Institute, University of South Australia, Mawson Lakes, SA 5095, Australia; University of Namur, Namur Institute of Structured Matter, B-5000 Namur, Belgium; College of Science, RMIT University, Melbourne, VIC 3001, Australia; CSIRO Manufacturing, Ian Wark Laboratories, Clayton, VIC 3168, Australia; SPECS Surface Nano Analysis GmbH, 13355 Berlin, Germany; Pacific Northwest National Laboratory, Richland, WA 99354, USA; National Institute of Standards and Technology, Gaithersburg, MD 20899, USA and University of Maryland, College Park, MD 20742, USA

中文翻译：

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文献中缺陷材料数据分析的激增

Matthew R. Linford1、Vincent S. Smentkowski2*、John T. Grant3、C. Richard Brundle4、Peter MA Sherwood5、Mark C. Biesinger6、Jeff Terry7、Kateryna Artyushkova8、Alberto Herrera-Gómez9、Sven Tougaard10、William Skinner11、Jean-Jacques Pireaux12、Christopher F. McConville13、Christopher D. Easton14、Thomas R. Gengenbach14、George H. Major1、Paul Dietrich15、Andreas Thissen15、Mark Engelhard16、Cedric J. Powell17、Karen J. Gaskell18 和 Donald R. Baer16 化学与生物化学系，杨百翰大学，普罗沃，UT 84602，美国；通用电气研究中心，Niskayuna，NY 12309，美国；表面分析顾问，Clearwater，FL 33767，美国；CR Brundle & Associates, Soquel, CA 95073, USA; 华盛顿大学，Box 351700，西雅图，WA 98195，美国；表面科学西部，西安大略大学，伦敦，安大略 N6G 0J3，加拿大；伊利诺伊理工学院物理系，芝加哥，IL 60616，美国；物理电子，Chanhassen，MN 55317，美国；CINVESTAV – Unidad Queretaro，Real de Juriquilla 76230，墨西哥；南丹麦大学物理系，丹麦欧登塞 5230；南澳大利亚大学未来工业研究所，莫森湖，SA 5095，澳大利亚；那慕尔大学，那慕尔结构物质研究所，B-5000 那慕尔，比利时；墨尔本皇家墨尔本理工大学理学院，VIC 3001，澳大利亚；CSIRO Manufacturing, Ian Wark Laboratories, Clayton, VIC 3168, Australia; SPECS 表面纳米分析有限公司，13355 柏林，德国；太平洋西北国家实验室，里奇兰，WA 99354，美国；美国国家标准与技术研究所，盖瑟斯堡，MD 20899，美国和马里兰大学，College Park，MD 20742，美国 伊利诺伊理工学院，芝加哥，IL 60616，美国；物理电子，Chanhassen，MN 55317，美国；CINVESTAV – Unidad Queretaro，Real de Juriquilla 76230，墨西哥；南丹麦大学物理系，丹麦欧登塞 5230；南澳大利亚大学未来工业研究所，莫森湖，SA 5095，澳大利亚；那慕尔大学，那慕尔结构物质研究所，B-5000 那慕尔，比利时；墨尔本皇家墨尔本理工大学理学院，VIC 3001，澳大利亚；CSIRO Manufacturing, Ian Wark Laboratories, Clayton, VIC 3168, Australia; SPECS 表面纳米分析有限公司，13355 柏林，德国；太平洋西北国家实验室，里奇兰，WA 99354，美国；美国国家标准与技术研究所，盖瑟斯堡，MD 20899，美国和马里兰大学，College Park，MD 20742，美国 伊利诺伊理工学院，芝加哥，IL 60616，美国；物理电子，Chanhassen，MN 55317，美国；CINVESTAV – Unidad Queretaro，Real de Juriquilla 76230，墨西哥；南丹麦大学物理系，丹麦欧登塞 5230；南澳大利亚大学未来工业研究所，莫森湖，SA 5095，澳大利亚；那慕尔大学，那慕尔结构物质研究所，B-5000 那慕尔，比利时；RMIT大学理学院，墨尔本，VIC 3001，澳大利亚；CSIRO Manufacturing, Ian Wark Laboratories, Clayton, VIC 3168, Australia; SPECS 表面纳米分析有限公司，13355 柏林，德国；太平洋西北国家实验室，里奇兰，WA 99354，美国；美国国家标准与技术研究所，盖瑟斯堡，MD 20899，美国和马里兰大学，College Park，MD 20742，美国 IL 60616，美国；物理电子，Chanhassen，MN 55317，美国；CINVESTAV – Unidad Queretaro，Real de Juriquilla 76230，墨西哥；南丹麦大学物理系，丹麦欧登塞 5230；南澳大利亚大学未来工业研究所，莫森湖，SA 5095，澳大利亚；那慕尔大学，那慕尔结构物质研究所，B-5000 那慕尔，比利时；RMIT大学理学院，墨尔本，VIC 3001，澳大利亚；CSIRO Manufacturing, Ian Wark Laboratories, Clayton, VIC 3168, Australia; SPECS 表面纳米分析有限公司，13355 柏林，德国；太平洋西北国家实验室，里奇兰，WA 99354，美国；美国国家标准与技术研究所，盖瑟斯堡，MD 20899，美国和马里兰大学，College Park，MD 20742，美国 IL 60616，美国；物理电子，Chanhassen，MN 55317，美国；CINVESTAV – Unidad Queretaro，Real de Juriquilla 76230，墨西哥；南丹麦大学物理系，丹麦欧登塞 5230；南澳大利亚大学未来工业研究所，莫森湖，SA 5095，澳大利亚；那慕尔大学，那慕尔结构物质研究所，B-5000 那慕尔，比利时；墨尔本皇家墨尔本理工大学理学院，VIC 3001，澳大利亚；CSIRO Manufacturing, Ian Wark Laboratories, Clayton, VIC 3168, Australia; SPECS 表面纳米分析有限公司，13355 柏林，德国；太平洋西北国家实验室，里奇兰，WA 99354，美国；美国国家标准与技术研究所，盖瑟斯堡，MD 20899，美国和马里兰大学，College Park，MD 20742，美国 CINVESTAV – Unidad Queretaro，Real de Juriquilla 76230，墨西哥；南丹麦大学物理系，丹麦欧登塞 5230；南澳大利亚大学未来工业研究所，莫森湖，SA 5095，澳大利亚；那慕尔大学，那慕尔结构物质研究所，B-5000 那慕尔，比利时；墨尔本皇家墨尔本理工大学理学院，VIC 3001，澳大利亚；CSIRO Manufacturing, Ian Wark Laboratories, Clayton, VIC 3168, Australia; SPECS 表面纳米分析有限公司，13355 柏林，德国；太平洋西北国家实验室，里奇兰，WA 99354，美国；美国国家标准与技术研究所，盖瑟斯堡，MD 20899，美国和马里兰大学，College Park，MD 20742，美国 CINVESTAV – Unidad Queretaro，Real de Juriquilla 76230，墨西哥；南丹麦大学物理系，丹麦欧登塞 5230；南澳大利亚大学未来工业研究所，莫森湖，SA 5095，澳大利亚；那慕尔大学，那慕尔结构物质研究所，B-5000 那慕尔，比利时；墨尔本皇家墨尔本理工大学理学院，VIC 3001，澳大利亚；CSIRO Manufacturing, Ian Wark Laboratories, Clayton, VIC 3168, Australia; SPECS 表面纳米分析有限公司，13355 柏林，德国；太平洋西北国家实验室，里奇兰，WA 99354，美国；美国国家标准与技术研究所，盖瑟斯堡，MD 20899，美国和马里兰大学，College Park，MD 20742，美国 南澳大利亚大学，莫森湖，SA 5095，澳大利亚；那慕尔大学，那慕尔结构物质研究所，B-5000 那慕尔，比利时；墨尔本皇家墨尔本理工大学理学院，VIC 3001，澳大利亚；CSIRO Manufacturing, Ian Wark Laboratories, Clayton, VIC 3168, Australia; SPECS 表面纳米分析有限公司，13355 柏林，德国；太平洋西北国家实验室，里奇兰，WA 99354，美国；美国国家标准与技术研究所，盖瑟斯堡，MD 20899，美国和马里兰大学，College Park，MD 20742，美国 南澳大利亚大学，莫森湖，SA 5095，澳大利亚；那慕尔大学，那慕尔结构物质研究所，B-5000 那慕尔，比利时；墨尔本皇家墨尔本理工大学理学院，VIC 3001，澳大利亚；CSIRO Manufacturing, Ian Wark Laboratories, Clayton, VIC 3168, Australia; SPECS 表面纳米分析有限公司，13355 柏林，德国；太平洋西北国家实验室，里奇兰，WA 99354，美国；美国国家标准与技术研究所，盖瑟斯堡，MD 20899，美国和马里兰大学，College Park，MD 20742，美国 SPECS 表面纳米分析有限公司，13355 柏林，德国；太平洋西北国家实验室，里奇兰，WA 99354，美国；美国国家标准与技术研究所，盖瑟斯堡，MD 20899，美国和马里兰大学，College Park，MD 20742，美国 SPECS 表面纳米分析有限公司，13355 柏林，德国；太平洋西北国家实验室，里奇兰，WA 99354，美国；美国国家标准与技术研究所，盖瑟斯堡，MD 20899，美国和马里兰大学，College Park，MD 20742，美国