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Design of a charged particle beam phase plate for transmission electron microscopy.
Ultramicroscopy ( IF 2.2 ) Pub Date : 2019-06-27 , DOI: 10.1016/j.ultramic.2019.06.001 Philip J B Koeck 1
中文翻译:
用于透射电子显微镜的带电粒子束相位板的设计。
更新日期:2019-11-01
Ultramicroscopy ( IF 2.2 ) Pub Date : 2019-06-27 , DOI: 10.1016/j.ultramic.2019.06.001 Philip J B Koeck 1
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中文翻译:
用于透射电子显微镜的带电粒子束相位板的设计。