半导体/材料I-V/C-V测量文章合集等你来下载！
需要测量新材料或新器件？轻松的系统搭建、更快地参数设置、以及内置测试库和学习工具，您将得到测试速度的全新体验。如下资料可以帮助你快速提升测试测量技术和技能。
半导体/材料相关I-V/C-V测量文章合集
• 《使用4200A-SCS参数分析仪测量碳纳米管晶体管的电气特点》
• 《使用4200A-SCS参数分析仪进行电荷泵测量》
• 《非易失性内存的脉冲I-V特性分析技术》
• 《使用4200A-SCS参数分析仪和四点共线探头测量半导体材料的电阻系数》
• 《使用4200A-SCS参数分析仪分析光伏材料和太阳能电池的电气特点》
• 《测量通道有效移动性的超快速单脉冲(UFSP)技术》
成功案例：伯克利国家实验室利用4200A-CVIV多开关使测试时间缩短30倍
只要参加就可以下载，同时有机会抽奖赢得奖励，及300信元论坛积分。
活动详情
时间：2017年6月1日~6月30日
奖品包括
1. 安卓/Apple 两用数据线 35条
2. 《泰克最新2017~2018产品指南》 100本
参与方式
1. 首先填写下面的活动登记表 (长按二维码)
2. 填写完后，点击提交，会在填表的下方出现 下载链接， 点击可下载资料
抽奖方式
1. 非实时抽奖，需活动结束抽奖（由泰克负责抽奖）
2. 本次奖品数量较多，所以中奖几率非常高。
3. 信元积分奖励，认真填写参与报名表之后，论坛活动帖回帖说明即可奖励300信元。
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