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材料表征和原型制作: FIB-SEM 创新技术研讨会 | 报名进行中

关于TESCAN 

TESCAN 是 30 多年来电子显微镜创新的先驱,我们的研讨会系列将帮您探索电子显微镜的前沿技术。介绍新型, 先进的 AMBER X 2 和 AMBER 2 系统,展示 FIB-SEM 技术的改进。深入探讨改进的速度、精度、材料分析中的实用性、TEM 样品制备和纳米原型等主题。每场会议中都对这些先进系统的功能、应用和实际优势提供了宝贵的见解.

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系列研讨会主题与时间 

第一场:

新一代 FIB-SEM: 快速、实用、精确

2024年8月20日,下午3点(北京时间)


第二场:

重新定义 FIB-SEM: 体验三维多模态表征的速度、精度和实用性

2024年8月22日,下午3点(北京时间)


第三场:

材料研究中的高级 TEM 样品制备技术

2024年9月3日,下午3点(北京时间)


第四场:

纳米原型的实用性和精确性: 快速开发新型设备的途径 

2024年9月5日,下午3点(北京时间)


报名方式

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演讲嘉宾:


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Martin_Sláma - Product Marketing Manager for FIB-SEM Materials Science, TESCAN


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Milos Hrabovsky - Product Marketing Manager for Materials Science-Nanoprototyping, TESCAN


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Tomáš Šamořil - Product Marketing Manager for Materials Science-Batteries, TESCAN


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