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Appl. Catal. B发表课题组最新工作W掺杂激活BiVO4半导体提高载流子迁移性能
发布时间:2021-08-07

       Appl. Catal. B发表课题组最新工作“Tungsten Induced Defects Control on BiVO4 Photoanodes for Enhanced Solar Water Splitting Performance and Photocorrosion Resistance“。该工作通过在BiVO4与FTO基底之间引入 WO3,WO3一方面提高半导体电子传输,另一方面制备过程中W掺杂到BiVO4引入本征半导体缺陷,,使得BiVO4表现出光激活特性,提高正面照射PEC性能。 

        第一作者为2019级硕士生刘淑杰。